Static electricity damage causes chip failure
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ESD protection structure
二极管结构
MOSFET 接地栅极 N 沟道 MOSFET

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Static electricity damage causes chip failure.png

电荷从一个物体转移到另一个物体,例如从人转移到集成电路 (IC)。静态电压可能高达数千伏,使芯片处于危险之中,并且其电路很容易烧坏。如果这个 IC 想要自救,唯一的办法就是快速耗散能量。

我们来谈谈 IC 中常用的 ESD 保护机制。芯片无论是在生产阶段、用于补丁应用,还是由最终用户操作或维护,都可能受到 ESD 的损坏。

ESD 故障的后果非常严重,可能导致 IC 芯片瞬间断裂。硅晶片结的烧毁和击穿,ESD 保护对于电子元件至关重要。


ESD 保护结构

ESD  protection structure.png

我们可以通过这三种方式保护我们的集成电路免受 ESD 损坏。ESD 保护结构通过为接地总线/电源轨提供安全的 ESD 放电路径,保护核心电路的输入、输出和电源引脚。这些保护结构在正常系统运行期间是闭合的,但在 ESD 事件期间会迅速打开,从而将浪涌电流释放到地。


二极管结构

Diode structure.png

正向偏置时满足低电压 ESD 应用的要求。在这些条件下工作时,它们是市面上最好的 ESD 保护元件之一 - 具有低导通电压、低导通电阻和高 ESD 电流处理能力。


MOSFET 接地栅极 N 沟道 MOSFET

MOSFET Ground Gate N-Channel MOSFET.png

接地栅极 N 沟道 MOSFET (GGNMOS) 通常用于保护基于 CMOS 的设计免受 ESD 事件的影响。这些器件的结构和操作类似于普通 MOS;但是,它们使用不同的布局技术来优化 ESD 保护器件的性能。


过去,大约 40% 的芯片生产故障与 ESD 有关。虽然可以通过光学显微镜定位故障,但要发现故障并不容易。预防胜于治疗。

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